機械・素材・技術の展示会「エヌプラス」で、偏光高速度カメラ・高速高感度赤外線カメラによる最新の非接触2次元計測技術をご提案

CATEGORY
ニュースリリース / イベント・セミナー / 偏光ハイスピードカメラ

2019.08.28

株式会社フォトロン(本社:東京都千代田区、代表取締役社長 瀧水隆)は、2019年9月11日(水)~13日(金)の3日間、東京ビッグサイト青海展示棟で開催される機械・素材・技術の展示会「エヌプラス」に、最新の光学計測システムを出展します。【 ブース番号:Hall-A No.C1-9 】

フォトロンブースでは、「偏光高速度カメラ」「高速高感度赤外線カメラ」などの特殊カメラを使った応力・ひずみの非接触測定、水分・透明樹脂コンタミの可視化、透明フィルムの温度ムラ解析など、新しい非接触2次元計測技術をご紹介します。

偏光高速度カメラ(左)と高速高感度赤外線カメラ(右)で同時に撮影した 新しい材料特性の計測技術(画像提供:東京大学 伊藤・横山研究室)
偏光高速度カメラ(左)と高速高感度赤外線カメラ(右)で同時に撮影した新しい材料特性の計測技術
(画像提供:東京大学 伊藤・横山研究室)

エヌプラス フォトロン出展概要

樹脂材料などの大きな複屈折のサンプル評価に最適な卓上型偏光高速度カメラ

「WPA-KAMAKIRI」は、PET・PEN・PI などの高位相差評価に適した卓上型複屈折マッピング計測装置です。異なる3つの波長を選択して各波長の位相差を比較・演算することで、約3,000nmの位相差を測定可能。約10,000nmの超高位相差を測定できる高位相差オプションも用意しています。

偏光高速度カメラ	WPA-KAMAKIRI

研究開発、欠陥検査、温度管理に応用可能な高速高感度赤外線カメラ

樹脂凝固温度や金属溶射温度などを「非接触・高速・二次元」に計測。従来の放射温度計では測定できなかった温度ムラを解析可能です。

高速高感度赤外線カメラ

開催概要

名称
エヌプラス
会期
2019年9月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00
会場
東京ビッグサイト 青海展示棟
アクセス:http://www.n-plus.biz/common/pdf/2019_accessmap.pdf
主催
(一社)プラスチック工業技術研究会
公式サイト:http://www.n-plus.biz/top.html
ブース
Hall-A No.C1-9

関連情報

お問い合わせ窓口

株式会社フォトロン システムソリューション事業本部 光学計測部

電話
03-3518-6271
FAX
03-3518-6279
メール

ニューストップへ戻る