N+(エヌプラス)~フォトロンブースのみどころ~

N+(エヌプラス)~フォトロンブースのみどころ~
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偏光ハイスピードカメラ

特殊カメラで
応力ひずみ、温度、欠陥異物に関する課題を可視化

2019年9月11日(水)~13日(金)の3日間、東京ビッグサイト青海展示棟で開催される機械・素材・技術の展示会「エヌプラス」に、最新の光学計測システムを出展します。【 ブース番号:Hall-A No.C1-9 】

フォトロンブースでは、「偏光高速度カメラ」「高速高感度赤外線カメラ」などの特殊カメラを使った応力・ひずみの非接触測定、水分・透明樹脂コンタミの可視化、透明フィルムの温度ムラ解析など、新しい非接触2次元計測技術をご紹介します。

みなさまお誘いあわせのうえ、ぜひフォトロンブースにお立ち寄りください。

N+(エヌプラス) 開催概要

日時

2019年9月11日(水)~13日(金) 10:00~17:00

会場

東京ビッグサイト 青海展示棟

会場へのアクセス

ブース番号

Hall-A No.C1-9

エヌプラス フォトロンブース
入場料

2,000円【招待券持参者/事前登録者は無料】 招待券をご希望のお客様は下記お問い合わせ先までご連絡ください。(招待券お申込み締切日:9月14日(金)受付分まで)

出展製品

偏光高速度カメラ(左)と高速高感度赤外線カメラ(右)で
同時に撮影した新しい材料特性の計測技術(画像提供:東京大学 伊藤・横山研究室)


樹脂材料などの大きな複屈折のサンプル評価に最適な
卓上型偏光高速度カメラ

「WPA-KAMAKIRI」は、PET・PEN・PI などの高位相差評価に適した卓上型複屈折マッピング計測装置です。異なる3つの波長を選択して各波長の位相差を比較・演算することで、約3,000nmの位相差を測定可能。約10,000nmの超高位相差を測定できる高位相差オプションも用意しています。

偏光高速度カメラ	WPA-KAMAKIRI
  

研究開発、欠陥検査、温度管理に応用可能な高感度赤外線カメラ

樹脂凝固温度や金属溶射温度などを「非接触・高速・二次元」に計測。従来の放射温度計では測定できない温度ムラを解析可能です。

高速・高感度 赤外線カメラ

お問い合わせ / 招待券お申込み

TEL
03-3518-6271
E-mail
polarizing-camera@photron.co.jp
営業時間
9:00-18:00(土曜・日曜・祝日、弊社指定の休業日を除く)