タブレット落下試験のひずみ解析（DIC）

概要

この映像は、タブレットが落下した際の変形（ひずみ）の解析結果です。
これまではひずみゲージを貼った箇所の点解析でしたが、ひずみ解析（DIC）を使用することで、面で解析できるので、より耐久性に優れた形状設計に役立てることが出来ます。

解像度：1280×1000画素 / 撮影速度：5,000コマ/秒 / シャッター速度：1/10000秒 / 撮影現象の実時間：-