基板の落下試験

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概要

この映像は基板の落下試験を撮影したものです。基板には各種ICチップが多数搭載されており、またそれらは半田などで基板上に固定されています。この試験では、搭載されたチップ類が落下の衝撃で欠落しないかや、基板自体が破損しないかを、高速度カメラの視覚だけではなく、解析ソフトでの数値情報からも検査しています。映像だけではなく加速度・変位のグラフも併せて表示しておりますので、是非ご覧下さい。

撮影データ

解像度:1024×600 / 撮影速度:5,000コマ/秒 / シャッター速度:1/8,000秒 / 撮影現象の実時間:0.072秒