偏光計測システム KAMAKIRI

特長

位相差・主軸方位計測は「高速マッピング」で新しい次元へ

位相差(Re)・主軸方位(θ)計測の二次元計測スタンダード機

フラットディスプレイの発展とともに、2000年代に光学フィルムの生産技術および機能性が大きく進歩しました。
同時に複屈折計測装置は完成した光学フィルムの品質保証装置として業界のスタンダード機となりました。
さらに、スマートホン、タブレット端末の普及にともない、近年のディスプレイに対するニーズの高まりと多様化によって、光学フィルムに対する高機能化、高品質化、そして低価格化の要求も高まっています。
また、複屈折計測装置に対しても品質保証機としての機能拡大とともに、入荷検査装置および研究開発装置としての新たな役割が求められています。

こうした背景を踏まえ、KAMAKIRIは従来の計測手法と異なる全く新しいアプローチで研究開発された、複屈折の高速二次元検査および計測に特化された装置です。
次世代のフィルム開発に貢献することを目指し、フォトロンはKAMAKIRIの高品質化と高機能化を追求します。

高速マッピングによって新たに検出可能となった複屈折ムラ

  • 延伸ムラ
  • ボーイング
  • 横ダン
  • 流量・物性ムラ
  • 内部応力