測定計測展2017 みどころ
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トピックス 2017/8/10
測定計測展2017 みどころ

運動解析・ひずみ解析・温度解析などに世界トップクラスの撮影性能を持つハイスピードカメラを用いた“スローモーション解析システム”を提案。計測における研究開発をサポートします。

「測定計測展2017」は光学測定・精密測定はもちろん、幅広い計測業界の最新製品・技術・情報が一堂に集まる展示会です。
弊社ブースでは、研究開発向けハイスピードカメラ『FASTCAMシリーズ』を出展し、【落下試験の運動解析】【引張試験のひずみ解析】【溶接試験の温度解析】などのアプリケーションを中心に事例紹介を交えてシステムをご紹介いたします。
さらに解析システムの実機デモコーナーを複数展示いたします。この機会にぜひ、ご来場ください。

測定計測展2017 みどころ

開催概要

日時 2017年9月13日(水)〜15日(金) 10:00〜17:00
会場 東京ビッグサイト
フォトロンブース 測定計測展2017 みどころ MAP
ブース番号:東5ホール No.M-44
入場料 無料(WEBにて事前登録)
下記お問合わせ先にご連絡いただければ、弊社より招待券をお送りいたします。
送付申込み締切日:9月8日(金)受付分まで

出展内容

みどころ ハイスピードカメラ『 FASTCAMシリーズ 』

FASTCAM SA-Z」は最高210万コマ/秒の撮影速度と高画質・高感度性能を実現したハイスピードカメラです。最短露光時間159nsecの超高速電子シャッターを搭載。ブレずにはっきりと撮影でき、超高速撮影性能と超高感度性能(モノクロISO50,000※ISO12232 Ssat 規格)により様々な試験の可視化に対応します。また、「FASTCAM Mini」は小型筺体により、拡大撮影やマイクロスコープとの組み合わせなどに最適です。分離マルチヘッドモデル「FASTCAM Multi」はアナログ波形2chのデータロガーを内蔵しており、各種センサ・試験機と接続して同期解析が可能です。

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営業時間 9:00〜18:00(土曜・日曜・祝日、当社指定の休業日を除く)