光学測定・精密測定など、計測業界の最新製品・技術・情報が一堂に集まる展示会 「測定計測展2017」に複数の解析システムデモコーナーを設けて製品を出展

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イベント・セミナー / ハイスピードカメラ

2017.08.31

株式会社 フォトロン(本社:東京都千代田区、代表取締役社長 布施信夫)は、2017年9月13日(水)~15日(金)まで、東京ビッグサイトで開催される「測定計測展2017」に出展します。

解析システムデモコーナー(イメージ図)
解析システムデモコーナー(イメージ図)

出展概要

運動解析・ひずみ解析・温度解析などに世界トップクラスの撮影性能を持つハイスピードカメラを用いた“スローモーション解析システム”を提案。計測における研究開発をサポートします。

フォトロンブースでは、研究開発向けハイスピードカメラ『FASTCAMシリーズ』を出展し、【落下試験の運動解析】【引張試験のひずみ解析】【溶接試験の温度解析】などのアプリケーションを中心に事例紹介を交えてシステムをご紹介いたします。この機会にぜひ、ご来場ください。

【ブース: No.M-44(東5ホール)】

フォトロンブース No.M-44(東5ホール)

出展製品

世界トップクラスの高速撮影性能を誇るハイスピードカメラ『FASTCAM SA-Z』

  • 最高2,100,000コマ/秒の撮影を実現したハイエンドモデル
  • 超高速データ保存システム“FAST Drive”に対応した最新モデルも実機で展示

FASTCAM SA-Z

小型軽量ハイスピードカメラ『FASTCAM Mini』シリーズ

  • 小型軽量と高性能を両立したハイスピードカメラ
  • 最高900,000コマ/秒の撮影速度と超高感度性能(モノクロISO40,000※ISO 12232 Ssat規格)を搭載[Mini AX]

小型軽量ハイスピードカメラ『FASTCAM Mini』シリーズ

分離マルチヘッドモデル 多機能ハイスピードカメラ『FASTCAM Multi』

  • 小型軽量カメラヘッドを2台同時に接続でき、アナログ波形データも同期取得可能な多機能ハイスピードカメラ
  • 超高速データ保存システム“FAST Drive”に対応した最新モデルも実機で展示

分離マルチヘッドモデル 多機能ハイスピードカメラ『FASTCAM Multi』

開催概要

1. 名称
測定計測展2017
2. 開催期間
2017年9月13日(水)~15日(金)[3日間] 10:00~17:00
3. 会場
東京ビッグサイト・東ホール
(アクセス:http://www.bigsight.jp/access/transportation/
4. 主催
日本光学測定機工業会・日本精密測定機器工業会

関連情報

お問い合わせ窓口

株式会社フォトロン システムソリューション事業本部(イメージング事業)

電話
03-3518-6271
FAX
03-3518-6279
メール

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