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2017年8月31日

光学測定・精密測定など、計測業界の最新製品・技術・情報が一堂に集まる展示会
「測定計測展2017」に複数の解析システムデモコーナーを設けて製品を出展

株式会社 フォトロン(本社:東京都千代田区、代表取締役社長 布施信夫)は、2017年9月13日(水)〜15日(金)まで、東京ビッグサイトで開催される「測定計測展2017」に出展します。

解析システムデモコーナー(イメージ図)

出展概要

運動解析・ひずみ解析・温度解析などに世界トップクラスの撮影性能を持つハイスピードカメラを用いた“スローモーション解析システム”を提案。計測における研究開発をサポートします。

フォトロンブースでは、研究開発向けハイスピードカメラ『FASTCAMシリーズ』を出展し、【落下試験の運動解析】【引張試験のひずみ解析】【溶接試験の温度解析】などのアプリケーションを中心に事例紹介を交えてシステムをご紹介いたします。この機会にぜひ、ご来場ください。

【ブース: No.M-44(東5ホール)】

出展製品

世界トップクラスの高速撮影性能を誇るハイスピードカメラ『FASTCAM SA-Z』

  • 最高2,100,000コマ/秒の撮影を実現したハイエンドモデル
  • 超高速データ保存システム“FAST Drive”に対応した最新モデルも実機で展示

[製品サイト] http://www.photron.co.jp/products/image/fa_saz/新しいウインドウを開きます

小型軽量ハイスピードカメラ『FASTCAM Mini』シリーズ

  • 小型軽量と高性能を両立したハイスピードカメラ
  • 最高900,000コマ/秒の撮影速度と超高感度性能(モノクロISO40,000※ISO 12232 Ssat規格)を搭載[Mini AX]

[製品サイト] http://www.photron.co.jp/products/image/fa_mini/新しいウインドウを開きます

分離マルチヘッドモデル 多機能ハイスピードカメラ『FASTCAM Multi』

  • 小型軽量カメラヘッドを2台同時に接続でき、アナログ波形データも同期取得可能な多機能ハイスピードカメラ
  • 超高速データ保存システム“FAST Drive”に対応した最新モデルも実機で展示

[製品サイト] http://www.photron.co.jp/products/image/fa_multi/新しいウインドウを開きます

開催概要

1. 名称:
測定計測展2017
2. 開催期間:
2017年9月13日(水)〜15日(金)[3日間] 10:00〜17:00
3. 会場:
東京ビッグサイト・東ホール
(アクセス:http://www.bigsight.jp/access/transportation/新しいウインドウを開きます
4. 主催:
日本光学測定機工業会・日本精密測定機器工業会

お問い合わせ窓口

株式会社フォトロン イメージング事業本部

電話:03-3518-6271 FAX:03-3518-6279 電子メール:image@photron.co.jp

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